[1]
E. Collado, J. Delgado Sánchez, N. Bernal, D. Cárdenas, y Y. Sáez, Herramienta basada en optimización para reducir la temperatura superficial en circuitos electrónicos con transistores BJTs y MOSFETs en escenarios peligrosos, IDT, vol. 19, n.º 2, pp. 64-75, jul. 2023.